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DZ3320C高温差热分析仪
DZ3320C高温差热分析仪图片
型号:DZ3320C
品牌:大展
产地:南京
仪器种类:差示扫描量热仪


产品介绍

差热分析是在程序控制温度下,测量物质与参比物之间的温度差与温度关系的一种技术。差热分析曲线是描述样品与参比物之间的温度(△T)随温度或时间的变化关系。

工作原理:

在DTA试验中,样品温度的变化是由于相转变或反应的吸热或放热效应引起的。如:相转变,熔化,结晶结构的转变,沸腾,升华,蒸发,脱氢反应,断裂或分解反应,氧化或还原反应,晶格结构的破坏和其他化学反应。

仪器特点:

1.仪器主控芯片采用STM32系列控制器,运算处理速度更快,温度控制更。

2.采用USB双向通讯,操作更便捷。

3.采用7寸24bit色全彩LCD触摸屏,界面更友好。

4.采用铂铑合金传感器,更耐高温、抗腐蚀、抗氧化。

技术参数:

温度范围室温~1500℃
量程范围0~±2000μV
DTA灵敏度0.01μV
DTA精度0.1μV
升温速率0.1~100℃/min
温度分辨率0.01℃
温度准确度±0.1℃
温度重复性±0.1℃
温度控制升温:程序控制可根据需要进行参数的调整恒温:程序控制恒温时间任意设定
炉体结构炉体采用上开盖式结构,代替了传统的升降炉体,精度高,易于操作
气氛控制内部程序自动切换
数据接口标准USB接口配套数据线和操作软件
显示方式24bit色,7寸 LCD触摸屏显示
参数标准配有标准物,带有一键校准功能,用户可自行对温度进行校正
基线调整带有基线调整功能,扣除基线的影响
工作电源AC 220V   50Hz(可定制其它规格)

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