典型应用场景

SICA-2000光谱图像测色分析仪采用远方高光谱测色专利技术，采用CIE D/8测量几何，可快速获得混色、形状不规则以及小尺寸等材料的光谱图像，并对图像各区域的颜色和光谱进行分析，并可对“无法测量的材料”实现数字化高精度测量，非常适用于纺织品、纺织饰物（纽扣、按钮、拉链等）、建筑材料、航空航天材料、油漆、涂料等各行业。

主要特点

1、符合CIE标准D/8测量几何要求，同时具备SCI和SCE测量条件。

2、采用高性能光源，长期稳定性好，光源寿命更长。

3、多方位监控以及补偿设计，保证测试结果的重复性更高、稳定性更好。

4、采用远方高光谱引擎，图像分辨率高，空间测量分辨率更高。

5、专利的软硬件系统设计提供了极高的光谱测试的准确度以及解析力，保证测试的准确性

主要技术指标