ZX38A-CV 半导体C-V特性测试仪 概述

ZX38A-CV半导体C-V特性测试仪：使用自动平衡电桥技术及四端对开尔文测试端、测量频率范围涵盖20Hz～2MHz，最小分辨率1mHz，基本测量精度可达0.05%。

主要用于测试半导体器件PN结的势垒电容在不同偏压(V)下的电容量(C)。ZX38A-CV半导体C-V特性测试仪除了可以连接电脑上位机软件扫描分析功能外，还提供在仪器大屏液晶显示器上直接显示C-V扫描曲线分析功能。这样客户不再需要为每台仪器配置一台电脑。这种方式既保证了测试效率，又降低了测试成本、还方便客户在生产线上使用。还可以把仪器屏幕上显示图形和测试数据直接拷贝到U盘。

本仪器还可以测试MOS管的输入电容Ciss，输入电阻Rg等参数。同时提供了内置±10VDC电压源方便客户测试3端管子。

ZX38A-CV 半导体C-V特性测试仪 产品特点

●自动平衡技术电桥，4端对开尔文测试端

●提供内部直流偏压-40V～+40V

●简体中文、英文操作语言

●绘图扫描、开路、短路、负载校正等等功能

●进行测试数据、测试条件保存（U盘或内部）

●绘图扫描图像直接拷屏到U盘功能

●加强的测试端保护功能

●USB、GPIB(选件)、RS232、LAN（选件）等上位机连接接口

订购信息

●ZX38-CV：20Hz-1MHz 半导体C-V特性测试仪

●ZX38A-CV：20Hz-2MHz 半导体C-V特性测试仪

自动平衡电桥技术

ZX38A使用的自动平衡电桥测试原理，把以往简易的测量运放改进成：Lpot检零电路，0度90度数字检相及调制解调电路，Lcur高频驱动电路等等组成的矢量负反馈网络。从而保证了测量电路的虚地端更接近理想。自动平衡电桥技术能够更好的抵消叠加偏压对电容测量造成的误差。

主要测量页面

ZX38A-CV 半导体C-V特性测试仪 技术参数