您好,欢迎来到仪器设备网! [登录] [免费注册]
仪器设备网
位置:首页 > 仪器 > 分析天平
电子天平XPR26/AC
电子天平XPR26/AC图片
型号:XPR26/AC
品牌:METTLER TOLEDO
天平类型:微量天平
校准方式:内部校准


产品介绍
每次均得有效结果. XPR微量分析天平、22 g量程、0.001 mg可读性、7"电容彩色触摸屏、用户管理、静电检测、自动内部校正且配有LabX

经济划算的样品使用

极高的准确性和极低的最小称量值让您能够称量非常小的样品,节省珍贵材料,降低成本。

StaticDetect

由于具备StaticDetect专利功能,XPR微量天平和分析天平可检测样品和容器的静电放电。

一次即准的结果

集成的StatusLight™、LevelControl和GWP Approved协同作用,确保各项条件处于最佳状态,获得正确的称量结果。

产品特点

轻松实现数据完整性

将所有Excellence卓越系列实验室仪器连接至LabX软件,可获得法规遵从方面的全面支持。LabX帮助您满足有关数据完整性的FDA ALCOA+要求。

快速准确

SmartGrid网格秤盘极大地减小了气流对称重传感器的影响。从而缩短稳定时间,更快获得称量结果。这对通风柜的情况尤其有利。

避免转移样品

如果直接加样至去皮容器内,即可避免与转移样品(如称量纸)相关的非常繁琐的回称及计算过程,并且不会损失珍贵样品。

高效率称重

通过专家设计的附件优化称量应用,让日常任务更有效率,更符合人体工学要求。

控制最小样品净重

是否担心小样品重量的准确性? 智能允差配置文件功能允许为每个称量应用设置最小样品重量,如果样品重量低于称量允差,系统会发出警告。

技术参数

最大秤量22 g
可读性0.001 mg
重复性(典型值)0.0007 mg
最小称量值(USP, 0.1%,典型值)1.4 mg
合法交易适用
线性误差(典型值)±0.01 mg
重复性测试载荷0.0015 mg (1 g)
稳定时间3.5 s
校正内部/ FACT
尺寸485 mm
尺寸 (高x宽)292 mm x 195 mm
秤盘外形尺寸(深x宽)40 mm x 40 mm
物料号 (s)30535471
用户评论
产品评分
目前评分共0人
产品质量
售后服务
易用性
性价比
产品评论
已有0条评论
可以输入500字 
暂无评论!
梅特勒-托利多(METTLER TOLEDO)
电话: 点击&查看
联系人: 销售
邮编: 200233
地址: 上海市桂平路589号
同品牌产品:
相关产品:
猜您感兴趣
换一批
JA10003精密电子天平
HB6801温度计
表面粗糙度轮廓仪
台式试纸条扫描读数仪
Practum® 系列电子天平
来访登记
关闭
请留下您的联系方式,登记完成即可查看电话与供应商联系,或等候供应商联系您。
留言类型:
     
*姓名:
*电话:
*单位:
Email:
*留言内容:
请说明需求数量,型号规格以及纯度含量等要求。
*验证码: