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资料名称 高分辨率3D计算机断层扫描系统FF20 CT
资料摘要 FF20 CT计算机断层扫描系统设计用于实现高精度的最佳三维检测结果。无论对于研发、缺陷分析、过程监控还是CT计量而言，FF20 CT 都非常适合用于检测电子业和材料科学行业的各种小型/最小型零部件。 （请登录www.analysis-tech.com获取更多信息）
资料文件 高分辨率3D计算机断层扫描系统FF20 CT.pdf     文件大小：237 KB
发布日期
 2020.03.06立即下载

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