半导体检测 >> IV测试仪
精密型组合式探针台
产品介绍 产品优势 模块化设计,可以搭配不同构件完成不同测试; 探针台整体位移精度达3um,样品台四维精密调节; 兼容多种光学显微镜,可以引入光路,完成光电mapping测试; 兼容高倍率电子显微镜/体视显微镜,可360°旋转及微调升降; 漏电精度可达10pA/100fA/10fA(屏蔽箱内); 探针座采用进口交叉滚珠导轨,线性移动,无回程差设计; 满足1um以上电极/PAD使用; 加宽探针架,可放置6个DC探针座/4个RF探针座; 搭配显微镜二维精密调节功能,且可选配多种位移行程及驱动方式。
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