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测头N08 Cr涡流测厚仪探头,测厚范围0~80um
测头N08 Cr涡流测厚仪探头,测厚范围0~80um图片
型号:测头 N08 Cr
仪器产地:国产其它测厚仪


产品介绍

德国EPK测头N08 Cr是专为MiniTest 1100/2100/3100/4100系列测厚仪设计的选配探头,适用于铜铝基体上镀铬层厚度测量。它具有测量范围从0到80微米和出色的测试分辨率,达到0.1微米,可提供高精度的测量结果,满足镀铬层质量控制的需求。

德国EPK 测厚仪探头N08 Cr是MiniTest 1100/2100/3100/4100的选配探头,测厚范围为0~800um,N08 Cr探头是电涡流探头,测试分辨率为0.1μm,用于铜铝基体上镀铬层厚度测量。

技术参数

型号N08 Cr
测厚范围0~80μm
最小测量面积直径5mm
探头类型涡流探头
低端分辨率0.1μm
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德国ElektroPhysik(EPK)
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