仪器名称：原位断层多光谱仪
型号：PDU-400
应用领域：原位测量有机高分子薄膜，例如OPV、OTFT等。
根据断层光谱模拟出薄膜中组分分布、能级分布、激子分布、电荷分布，从而解释薄膜中光学作用和电荷输运的机制。
薄膜垂直方向分辨率1nm，波长分辨率0.4nm，采集时间分辨率3ms。波长范围：紫外可见200-1000nm，可拓展到1700nm。可测断层吸收光谱、断层反射光谱、断层散射、断层荧光。提供自主研发的断层器件分析软件。